Sign In
Create Account
Back to top
 |
Second Opinion
Folosind serviciul second opinion ne puteți trimite RMN-uri, CT -uri, angiografii, fișiere .pdf, documente medicale. Astfel vă vom putea da o opinie neurochirurgicală, fără ca aceasta să poată înlocui un consult de specialitate. Răspunsurile vor fi date prin e-mail în cel mai scurt timp posibil (de obicei în mai putin de 24 de ore, dar nu mai mult de 48 de ore). Second opinion – Neurohope este un serviciu gratuit. www.neurohope.ro |
Defect floating-gate la un USART
Last Updated: Feb 11 2009 16:25, Started by
cool_liliana
, Feb 11 2009 13:34
·
0
0
#1
Posted 11 February 2009 - 13:34
|
Salut,
Un USART nu mai transmite dupa frecventa clock-ului (sincron). S-a descoperit un defect de tip floating-gate (via rezistiv intre doua grile). Failure mechanism=interconnect. As dori sa stiu daca aceasta este o cauza reala a defectului (netransmisia sincrona). Ca masuri corective...curatarea pt evitarea micro-zgarieturilor, pregatiri suplimentarea a suprafetelor...ar putea avea vreun efect asupra evitarii reaparitiei acestui defect? Mersi anticipat pentru pareri! |
#2
Posted 11 February 2009 - 13:46
|
Asta este tema de casa? Numai cineva care a trecut prin cursurile tale poate zice ce raspuns asteapta profesorul.
Personal cred ca defectele la floatig-gate sunt defecte de dopare la productie sau ulterior, de iradiatie externa (uneori chiar datorita materialului de incapsulare) sau migrare de ioni (dopare necorespunzatoare). Dar poate spun prostii :D |
#3
Posted 11 February 2009 - 16:25
|
Asta este tema de casa? Numai cineva care a trecut prin cursurile tale poate zice ce raspuns asteapta profesorul. Personal cred ca defectele la floatig-gate sunt defecte de dopare la productie sau ulterior, de iradiatie externa (uneori chiar datorita materialului de incapsulare) sau migrare de ioni (dopare necorespunzatoare). Dar poate spun prostii :D Mersi pentru raspuns. Nu e tema pentru acasa. E vorba de un microcontroler folosit in automotive, al carui USART are acest defect. Microcontrolerul a fost analizat de fabricant sub light emission microscope in timp ce USART transmitea si a observat aceasta cale rezistiva intre cele 2 gate-uri (floating-gate). Ei suspecteaza ca e defect de interconexiune intre 2 via. Au propus ca masuri corective cateva proceduri de proces pentru evitarea micro-zgarieturilor si a particulelor straine...dar nu sunt convinsa de legatura acestora cu defectul. Cum se poate verifica daca doparea este cea corecta si nu s-a depasit concentratia? daca intr-adevar ar putea fi si asta o cauza.... Imi poti explica cum e cu iradiatia externa? Mersi. |
Anunturi
▶ 0 user(s) are reading this topic
0 members, 0 guests, 0 anonymous users
-
- Change Theme
- English
- Mark Community Read
- Termene & conditii
- Confidentialitate
- Consimtamant
- Cookies
- Help
© 2001-2024 Softpedia. All rights reserved. Softpedia® and the Softpedia logo are registered trademarks of SoftNews Net SRL.
Ora implicita a Forumului Softpedia este ora standard a Romaniei (GMT+2). Mai multe informatii →
⚠ Postarile afisate pe Forumul Softpedia reprezinta o opinie subiectiva a membrilor care le-au publicat si nu a SoftNews Net SRL.